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    晶振輸出波形與測試電路

    作者:愛普生代理江蘇南山 發布時間:2020-10-10分類:常見問題瀏覽:100次

    1時序表

    時序表

    2.測試條件

    (1)電源電壓

    ?超過 150µs,直到電壓級別從 0 %達到 90 % 。

    ?電源電壓阻抗低于電阻 2Ω。

    (2)其他

    ?輸入電容低于 15 pF

    ?5倍頻率范圍或更多測量頻率。

    ?鉛探頭應盡可能短。

    ?測量頻率時,探頭阻抗將高于 1MΩ。當波形經過振蕩器的放大器時,可同時進行測量。

    (3)其他

    ?CL包含探頭電容。

    ?應使用帶有小的內部阻抗的電表。

    ?使用微型插槽,以觀察波形。

    (請勿使用該探頭的長接地線。)
    EPSON晶振測試條件

    3.測試電路


    TCO-****系列 VG, TG, EG,XG系列 *1 :在頻率電壓控制功能時,進行連接

    (1)CMOS 負載
    型號:
    TCO-710x
    TCO-708*X1A
    CMOS 負載
    (2) 抗低,電容負載
    型號:
    TG-5021CG/CE
    TG-5031CJ
    TG-5035CG/CE/CJ
    抗低,電容負載
    (3) TTL 負載
    型號:
    TCO-708*A1A
    TTL 負載
    (4) LV-PECL 負載
    型號:
    VG-4512CA
    LV-PECL 負載
    (5)LV-PECL 負載
    型號:
    EG-2121CB/CA
    XG-2121CA
    EG-4121CA
    LV-PECL 負載
    (6) LV-PECL 負載
    型號:
    EG-2102CB/CA
    XG-2102CA
    EG-2101CA
    EG-4101CA
    EA-2102CB
    LV-PECL 負載
    (7) LVDS 負載
    型號:
    EG-2121/2102CB
    XG-2121/2102CA
    EG-2121/2102CA
    EG-2101CA
    EG-4121/4101CA
    EA-2102CB
    LVDS 負載
    (8) HCSL 負載
    型號:
    EG-2121/2102CA
    EG-4121/4101CA
    HCSL 負載
     
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