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    晶體回路匹配測試
    • 晶體測試,愛普生Epson稱呼為CE測試(Crystal Evaluation)主要評估無源晶體回路特性,幫助客戶可靠的使用品體器件,評估客戶當前電路板品體回路特性。常規測試是通過調節負載電容...

    • 愛普生晶體部門針對廣大的石英晶振(無源晶振/晶體諧振器)客戶群體,一直以來有一項對晶體回路匹配的測試服務,很大程度上能節約客戶的研發時間和成本。我們稱之為晶體回路匹配分析(Circuit Evaluation),簡稱為CE測試...

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