晶體測(cè)試，愛普生Epson稱呼為CE測(cè)試（Crystal Evaluation)主要評(píng)估無(wú)源晶體回路特性，幫助客戶可靠的使用品體器件，評(píng)估客戶當(dāng)前電路板品體回路特性。常規(guī)測(cè)試是通過(guò)調(diào)節(jié)負(fù)載電容...

愛普生晶體部門針對(duì)廣大的石英晶振（無(wú)源晶振/晶體諧振器）客戶群體，一直以來(lái)有一項(xiàng)對(duì)晶體回路匹配的測(cè)試服務(wù)，很大程度上能節(jié)約客戶的研發(fā)時(shí)間和成本。我們稱之為晶體回路匹配分析（Circuit Evaluation），簡(jiǎn)稱為CE測(cè)試...